XDV-SDD

O XDV-SDD é um dos mais poderosos dispositivos de fluorescência de raios-X no portfólio da Fischer. Os instrumentos são equipados com detectores de deriva de silício (SDD) particularmente grandes . Uma janela de detecção de 50 mm² permite análises rápidas e precisas, mesmo para pequenos pontos de medição. Além disso, os dispositivos podem ser equipados com diferentes diafragmas e filtros para criar as melhores condições de excitação para a respectiva tarefa de medição.

XDV-SDD para medição de espessura de revestimento e análise de material

Características

  • Tubos de raios-X de alto desempenho e detector de deriva de silício (SDD) com grande área efetiva para uma medição precisa e exata até mesmo para os revestimentos mais finos
  • Construção extremamente robusta para ensaios em série, com excelente estabilidade a longo prazo
  • Mesa XY programável e eixo Z para testes em série automatizados
  • Imagens de vídeo ao vivo e ponteiro laser para tornar o posicionamento da amostra rápido e fácil

Aplicações:

Medição de Espessura do Revestimento

  • Teste revestimentos muito finos, por exemplo camadas de ouro e paládio ≤ 0,1μm de espessura, nas indústrias da eletrônica e semicondutores
  • Medição de revestimentos duros na fabricação automotiva
  • Medição de espessura do revestimento na indústria fotovoltaica

Análise de Material

  • Identificação de substâncias indesejáveis (por exemplo, metais pesados) em eletrônica, embalagens e bens de consumo de acordo com RoHS, WEEE, CPSIA e outras diretrizes
  • Análise de ouro e outros metais preciosos, bem como suas ligas.
  • Determinação da composição dos revestimentos funcionais, como a determinação do teor de fósforo no NiP

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