Instrumentos de medição de mesa

Os instrumentos de espessura de revestimento de mesa FISCHER, que utilizam a tecnologia de fluorescência de raios X ou a medição tátil com diversas sondas, fornecem um desempenho e flexibilidade incomparáveis. Dadas as técnicas de medição de ampla gama que aplicam, oferecem a solução certa para qualquer tarefa. Os instrumentos de mesa podem ser integrados facilmente nos sistemas de produção e gestão de qualidade através das interfaces de software e hardware.

XAN500

Uma unidade, três aplicações - o flexível XAN®500 não é só um dispositivo XRF portátil, como também se converte numa unidade de bancada e pode ser integrado em linhas de produção.

MMS PC2

Sistema modular para várias técnicas de medição: ideal para várias tarefas em ligação com a medição de espessura de revestimento e teste de material.

CMS2

Instrumento de mesa para medição de espessura de virtualmente todos os revestimentos metálicos, incluindo de múltiplas camadas, em substratos metálicos ou não metálicos.

GOLDSCOPE

Os equipamentos de fluorescência de raios-X da série GOLDSCOPE são projetados especificamente para analisar ouro e outros metais preciosos.

XAN

Instrumentos de medição para análise rápida e económica de joalharia de ouro e outros metais preciosos.

XUL / XULM

Instrumentos robustos com base em fluorescência por raios X para medição rápida e económica de espessura de revestimento, especialmente na indústria de eletrogalvanização.

XDL / XDLM / XDAL

Versatilidade: com abrangentes opções de configuração, os instrumentos XDL são ideais para medições manuais ou teste em série de espessuras de revestimento e composições de material.

XDV-SDD

O FISCHERSCOPE® XDV-SDD foi projetado para atender às maiores exigêncas em medição de espessura de revestimento e análise de material.

XDV-µ

Com a sua série XDV-μ, a Fischer oferece instrumentos para testar as estruturas mais pequenas, por exemplo, nas indústrias da eletrônica ou joalharia.

XUV

Instrumentos de fluorescência de raios X com câmara de vácuo para análise de elementos leves.

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